X線・中性子による構造解析

著者のことばから：物質構造研究の基礎となる「回折法による構造解析」は飛躍的に進歩しています. そこで今回，学部生および大学院生を対象に，回折法の基礎から，X線による単結晶や粉末結晶の構造解析，X線でなく中性子を利用した構造解析を網羅した教科書の執筆を企画しました. 三次元の周期構造をもつ物質ばかりでなく，一次元方向にのみ周期構造をもつ薄膜の構造解析にも触れ，SHELXなどの解析ソフトウェアを用いた実際の構造解析の操作方法や，論文投稿時に求められる解析結果CIFファイルの作成についても解説します.

主要目次：結晶の周期性とX線／結晶とその対称性／X線の回折と電子密度／回折強度の対称性と消滅則：空間群の判定／回折強度と構造因子／構造因子の位相の決定／構造の精密化／実際の構造解析：解析ソフトウェアの取扱いとCIFファイル／解析結果の整理／中性子構造解析／粉末構造解析／薄膜の構造解析